测量原理：通过射线（X-ray、β-ray）穿透材料后的衰减量换算出被测材料物质总量。

应用领域：光学膜、锂电隔膜，流延、双拉、压延、片板等连续材料

技术亮点：定距扫描、内标定、APC模头自控。